Support Vector Machines and Eddy-Current Tests for Flaws Characterization in Thin Metallic Plates / M., Cacciola; Calcagno, S; Morabito, F. C.; Versaci, Mario. - (2005), pp. 112-116. (Intervento presentato al convegno 4th WSEAS International Conference on Electronics, Control and Signal Processing tenutosi a Miami, Florida (USA) nel November 2005).
Support Vector Machines and Eddy-Current Tests for Flaws Characterization in Thin Metallic Plates
CALCAGNO S;MORABITO F. C.;VERSACI Mario
2005-01-01
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