Support Vector Machines and Eddy-Current Tests for Flaws Characterization in Thin Metallic Plates / M., Cacciola; Calcagno, S; Morabito, F. C.; Versaci, Mario. - (2005), pp. 112-116. (Intervento presentato al convegno 4th WSEAS International Conference on Electronics, Control and Signal Processing tenutosi a Miami, Florida (USA) nel November 2005).

Support Vector Machines and Eddy-Current Tests for Flaws Characterization in Thin Metallic Plates

CALCAGNO S;MORABITO F. C.;VERSACI Mario
2005-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/14242
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