Support Vector Machines and Eddy-Current Tests for Flaws Characterization in Thin Metallic Plates / M., C., Calcagno, S., Morabito, F.C., Versaci, M.. - (2005), pp. 112-116. (4th WSEAS International Conference on Electronics, Control and Signal Processing Miami, Florida (USA) November 2005).
Support Vector Machines and Eddy-Current Tests for Flaws Characterization in Thin Metallic Plates
CALCAGNO S;MORABITO F. C.;VERSACI Mario
2005-01-01
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