Explanation of anomalous erase behaviour and the associated device instability in TANOS Flash using a new trap characterization technique / Degraeve, R., Zahid, M., Van den bosch, G., Blomme, P., Breuil, L., Kaczer, B., Mercuri, M., Rothschild, A., Cacciato, A., Jurczak, M., Groeseneken, G., Van Houdt, J.. - (2009), pp. 428-429. [10.7567/SSDM.2009.P-4-3]

Explanation of anomalous erase behaviour and the associated device instability in TANOS Flash using a new trap characterization technique

MERCURI M;
2009-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/150366
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