Explanation of anomalous erase behaviour and the associated device instability in TANOS Flash using a new trap characterization technique / Degraeve, R.; Zahid, M.; Van den bosch, G.; Blomme, P.; Breuil, L.; Kaczer, B.; Mercuri, M; Rothschild, A.; Cacciato, A.; Jurczak, M.; Groeseneken, G.; Van Houdt, J. - (2009), pp. 428-429. [10.7567/SSDM.2009.P-4-3]
Explanation of anomalous erase behaviour and the associated device instability in TANOS Flash using a new trap characterization technique
MERCURI M;
2009-01-01
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