Raman diagnostics on thin reactively-sputtered a-CN:H coatings: derivation of a scaling law for the deposition parameters / Fanchini, G.; Messina, G.; Santangelo, Saveria; Tagliaferro, A.; Tucciarone, A.. - (2002).

Raman diagnostics on thin reactively-sputtered a-CN:H coatings: derivation of a scaling law for the deposition parameters

G. MESSINA;SANTANGELO, Saveria;
2002-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/19168
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