“STUDY OF BUILT-IN STRAIN IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING MEASUREMENTS” / Ferrara, M. A.; Sirleto, L.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Rotiroti, L.; Rendina, I.. - (2008), pp. 202-203. (Intervento presentato al convegno 6th International Conference on Porous Semiconductor Science and Technology tenutosi a Mallorca nel 2008).
“STUDY OF BUILT-IN STRAIN IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING MEASUREMENTS”
MESSINA, Giacomo;S. SANTANGELO;
2008-01-01
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