A Random-Fuzzy Approach to the Metrological System Management / DE CAPUA, C., Romeo, E., DE CAPUA, C.. - (2004), pp. 328-334. (XI Int. Congress of SIGEF ).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


