STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING / M. A., F., L., S., Messina, G., M. G., D., L., R., I., R.. - (2006), pp. 215-216. (Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana Sensori e Microsistemi Lecce 2006).

STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING

MESSINA, Giacomo;
2006-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/20901
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