STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING / M. A., Ferrara; L., Sirleto; Messina, Giacomo; M. G., Donato; L., Rotiroti; I., Rendina. - (2006), pp. 215-216. (Intervento presentato al convegno Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana Sensori e Microsistemi tenutosi a Lecce nel 2006).
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