STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING / M. A., Ferrara; L., Sirleto; Messina, Giacomo; M. G., Donato; L., Rotiroti; I., Rendina. - (2006), pp. 215-216. (Intervento presentato al convegno Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana Sensori e Microsistemi tenutosi a Lecce nel 2006).

STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING

MESSINA, Giacomo;
2006-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/20901
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