Evidence for the existence of scaling laws correlating the deposition parameters and the Raman spectra features in a-C:N(:H) thin films deposited by reactive r.f. sputtering / Santangelo, Saveria; G., Fanchini; A., Tagliaferro; Messina, Giacomo. - (2001).
Evidence for the existence of scaling laws correlating the deposition parameters and the Raman spectra features in a-C:N(:H) thin films deposited by reactive r.f. sputtering
SANTANGELO, Saveria;MESSINA, Giacomo
2001-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
