BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING / Ferrara, M.A., Donato, M.G., Messina, G., Santangelo, S., Sirleto, L., Rendina, I.. - (2007), pp. 205-206. (Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana Sensori e Microsistemi NAPOLI 2007).
BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING
MESSINA, Giacomo;S. SANTANGELO;
2007-01-01
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