BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING / Ferrara, M. A.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Sirleto, L.; Rendina, I.. - (2007), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana Sensori e Microsistemi tenutosi a NAPOLI nel 2007).
BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING
MESSINA, Giacomo;S. SANTANGELO;
2007-01-01
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