BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING / Ferrara, M. A.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Sirleto, L.; Rendina, I.. - (2007), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana Sensori e Microsistemi tenutosi a NAPOLI nel 2007).

BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING

MESSINA, Giacomo;S. SANTANGELO;
2007-01-01

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/21167
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact