“A single Raman-diagnostics quality indicator enabling the property tailoring of sputter-grown a-CN:H coatings” / G., Fanchini; Messina, Giacomo; A., Tagliaferro; Santangelo, Saveria. - (2003).

“A single Raman-diagnostics quality indicator enabling the property tailoring of sputter-grown a-CN:H coatings”

MESSINA, Giacomo;SANTANGELO, Saveria
2003-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/21212
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