Analysis of Al2O3 high-k gate dielectric effect on the electrical characteristics of a 4H-SiC low-power MOSFET / Bencherif, H.; Yousfi, A.; Dehimi, L.; Pezzimenti, F.; Della Corte, F. G.. - (2019), p. 9182412.
Analysis of Al2O3 high-k gate dielectric effect on the electrical characteristics of a 4H-SiC low-power MOSFET
F. Pezzimenti;F. G. Della Corte
2019-01-01
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