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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Aid of scaling laws in the achievement of a well-controlled film deposition process 1-gen-2006 Messina, G.; Santangelo, Saveria
An optimized Graphene/4H-SiC/Graphene MSM UV-photodetector operating in a wide range of temperature 1-gen-2020 Bencherif, H.; Dehimi, L.; Messina, G.; Vincent, P.; Pezzimenti, F.; Della Corte, F. G.
Analysis of the 1000-1800 cm-1 region of the Raman spectra in amorphous carbon-based thin films: a comparative discussion between different models 1-gen-2001 Messina, G.; Paoletti, A.; Santangelo, Saveria; Tebano, A.; Tucciarone, A.
Analysis of the Csp2 mode region aimed at film strain monitoring in a-CN:H films via 2.41 eV Raman spectroscopy 1-gen-2003 Fanchini, G.; Messina, G.; Santangelo, Saveria; Tagliaferro, A.
Analysis of trapping-detrapping defects in high quality single crystal diamond films grown by chemical vapor deposition 1-gen-2006 Balducci, A.; Chiorboli, M.; Donato, M. G.; Faggio, G.; Marco, Marinelli; Messina, G; Milani, E.; Potenza, R.; Prestopino, G.; Santangelo, S.; Scoccia, M.; Tucciarone, A.; Tuv, C.; VERONA RINATI, G.
Apparent activation energy of oxidation of multi-walled carbon nanotubes for crystalline quality assessment 1-gen-2010 M., Lanza; Santangelo, Saveria; S., Galvagno; C., Milone; Messina, Giacomo
Application of the P theorem of Dimensional Analysis to electron scattering in multi- component systems 1-gen-1996 Messina, G.; Santangelo, Saveria; Paoletti, A.; Tucciarone, A.
Application of the Π theorem of Dimensional Analysis to electron scattering in multi-component systems 1-gen-1996 Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Paoletti, A.; Tucciarone, A.
Buckingham’s approximants to physical laws 1-gen-1995 Messina, G; Santangelo, S.; Paoletti, A.; Tucciarone, A.
BUILT-IN STRAIN MEASUREMENTS IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING 1-gen-2007 Ferrara, M. A.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Sirleto, L.; Rendina, I.
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  • 1 Contributo su Rivista::1.2 Rece... 1
Autore
  • SANTANGELO, Saveria 282
  • FAGGIO, GIULIANA 156
  • DELLA CORTE, Francesco Giuseppe 7
  • MALARA, Angela 7
  • DONATO, Andrea 6
  • GNISCI, Andrea 6
  • PEZZIMENTI, Fortunato 4
  • CAROTENUTO, Riccardo 3
  • TRIPODI, Giuseppe 3
  • MAURIELLO, Francesco 2
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 16
  • 2010 - 2019 77
  • 2000 - 2009 162
  • 1990 - 1999 59
  • 1983 - 1989 11
Editore
  • IOS Press 6
  • Morlacchi Editore 5
  • Springer-Verlag 4
  • IEEE 3
  • Research Signpost 3
  • Edizioni CNR 2012 2
  • Società Italiana di Fisica 2
  • VDE-VERLAG GMBH 2
  • ELSEVIER 1
  • Elsevier 1
Rivista
  • DIAMOND AND RELATED MATERIALS 26
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 10
  • IL NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ IT... 9
  • JOURNAL OF RAMAN SPECTROSCOPY 5
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 4
  • MICROSYSTEM TECHNOLOGIES 4
  • PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICA... 4
  • JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS 3
  • PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED... 3
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 2
Keyword
  • RAMAN SPECTROSCOPY 33
  • CARBON NANOTUBES 16
  • ELECTRON SCATTERING 14
  • CHEMICAL VAPOR DEPOSITION 12
  • MONTE CARLO SIMULATION 12
  • Carbon nanotubes 10
  • ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY 10
  • Raman spectroscopy 10
  • MASK FABRICATION 9
  • Chemical vapor deposition 8
Lingua
  • eng 297
  • ita 20
Accesso al fulltext
  • no fulltext 252
  • reserved 52
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