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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
“A scaling law for MWCNT growth by catalytically assisted CVD”
2008-01-01 C., Milone; M., Lanza; A., Pistone; Messina, Giacomo; Santangelo, Saveria
“A single Raman-diagnostics quality indicator enabling the property tailoring of sputter-grown a-CN:H coatings”
2003-01-01 G., Fanchini; Messina, Giacomo; A., Tagliaferro; Santangelo, Saveria
“INVESTIGATION OF WETTING PHENOMENA IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING”, POSTER, BOOK OF ABSTRACT PSST 2008, 350-351, MALLORCA (2008)
2008-01-01 Ferrara, M. A.; Sirleto, L.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Rotiroti, L.; Rendina, I.
“Local bonding-nature investigation in hydrogenated carbon nitrides deposited by reactive sputtering of graphite”
2002-01-01 G., Fanchini; A., Tagliaferro; Santangelo, Saveria; Messina, Giacomo
“MISURE DI STRAIN IN SILICIO POROSO TRAMITE EFFETTO RAMAN SPONTANEO”,
2006-01-01 P. M. A., Ferrara; L., Sirleto; Messina, Giacomo; M. G., Donato; I., Rendina; PROCEEDINGS OF, Eletroottica
“Monte Carlo evaluation of proximity effect reduction in x-ray reflection masks having diamond substrates”
1993-01-01 Messina, Giacomo; A., Paoletti; A., Tucciarone; Santangelo, Saveria
“Optimisation of MWNTs preparation by catalytic C2H6 decomposition over Fe/SiO2 catalyst”
2006-01-01 M. G., Donato; Messina, Giacomo; C., Milone; Santangelo, Saveria
“Raman spectra of amorphous carbon-based thin films: a comparative discussion on the analysis of the 1000-1800 cm-1 region by different models”
2002-01-01 Santangelo, Saveria; A., Tebano; A., Tucciarone; Messina, Giacomo
“Short-range and long-range scattering in e-beam lithography”
1991-01-01 Messina, Giacomo; A., Paoletti; A., Tucciarone; Santangelo, Saveria
“STUDY OF BUILT-IN STRAIN IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING MEASUREMENTS”
2008-01-01 Ferrara, M. A.; Sirleto, L.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Rotiroti, L.; Rendina, I.
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 163
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Data di pubblicazione
- 2020 - 2022 1
- 2010 - 2019 37
- 2000 - 2009 98
- 1990 - 1999 24
- 1988 - 1989 3
Editore
- IOS Press 5
- IEEE 3
- Morlacchi Editore 3
- Edizioni CNR 2012 2
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