XPS and AFM characterization of a vanadium oxide film on TiO2(100) surface / G., Chiarello; R., Barberi; Amoddeo, Antonino; L. S., Caputi; E., Colavita. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 99:(1996), pp. 15-19.

XPS and AFM characterization of a vanadium oxide film on TiO2(100) surface

AMODDEO, Antonino;
1996-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12318/7458
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