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XPS and AFM characterization of a vanadium oxide film on TiO2(100) surface / G., C., R., B., Amoddeo, A., L. S., C., E., C.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 99:(1996), pp. 15-19.

XPS and AFM characterization of a vanadium oxide film on TiO2(100) surface

AMODDEO, Antonino;
1996-01-01
1996
Inglese
99
15
19
5
2-s2.0-0030148398
Sì, ma tipo non specificato
No
G., Chiarello; R., Barberi; Amoddeo, Antonino; L. S., Caputi; E., Colavita
info:eu-repo/semantics/article
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
262
XPS and AFM characterization of a vanadium oxide film on TiO2(100) surface / G., C., R., B., Amoddeo, A., L. S., C., E., C.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 99:(1996), pp. 15-19.
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none
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