Inverse Profiling via an Effective Linearized Scattering Model and MRF Regularization / Autieri, R; D'Urso, M; Isernia, Tommaso; Pascazio, V. - In: IEEE GEOSCIENCE AND REMOTE SENSING LETTERS. - ISSN 1545-598X. - 8:6(2011), pp. 5934693.1021-5934693.1025. [10.1109/LGRS.2011.2147757]
Inverse Profiling via an Effective Linearized Scattering Model and MRF Regularization
ISERNIA, Tommaso;
2011-01-01
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