Simulation and experimental results on the forward J-V characteristic of Al implanted 4H-SiC p-i-n diodes / DELLA CORTE, F. G.; Pezzimenti, F.; Nipoti, R.. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - 38:(2007), pp. 1273-1279. [10.1016/j.mejo.2007.09.024]
Simulation and experimental results on the forward J-V characteristic of Al implanted 4H-SiC p-i-n diodes
F. G. DELLA CORTE;F. PEZZIMENTI;
2007-01-01
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