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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
“2.41 eV Raman analysis for the non-destructive estimation of C content in disordered CN-based materials” 1-gen-2004 Fanchini, G; Messina, Giacomo; Tagliaferro, A; Santangelo, Saveria
“A new electron scattering model for x-ray lithography applications” 1-gen-1993 Santangelo, Saveria; A., Tucciarone; Messina, Giacomo
“A scaling law for MWCNT growth by catalytically assisted CVD” 1-gen-2008 C., Milone; M., Lanza; A., Pistone; Messina, Giacomo; Santangelo, Saveria
“A single Raman-diagnostics quality indicator enabling the property tailoring of sputter-grown a-CN:H coatings” 1-gen-2003 G., Fanchini; Messina, Giacomo; A., Tagliaferro; Santangelo, Saveria
“Diamond based devices for UV photon detection” 1-gen-2000 Bonanno, G.; Dibenedetto, R.; Scuderi, S.; Chiuderi, C.; Pace, E.; Marinelli, M.; Milani, E.; Paoletti, A.; Tucciarone, A.; VERONA RINATI, G.; Messina, G.; Santangelo, Saveria
“Electron scattering of diamond substrates in microsystems” 1-gen-1996 Messina, G.; Paoletti, A.; Santangelo, Saveria; Tucciarone, A.
“Electronic transport properties of NiPS3” 1-gen-1988 V., Grasso; F., Neri; Santangelo, Saveria; L., Silipigni; M., Piacentini
“Evaluation of electron scattering in high-resolution x-ray mask fabrication” 1-gen-1993 A., Paoletti; Santangelo, Saveria; A., Tucciarone; Messina, Giacomo
“Experimental test of high-resolution process modelling in electron-beam lithography at 25 to 50 keV” 1-gen-1993 A., Paoletti; Santangelo, Saveria; A., Tucciarone; Messina, Giacomo
“INVESTIGATION OF WETTING PHENOMENA IN POROUS SILICON BY RAMAN SCATTERING”, POSTER, BOOK OF ABSTRACT PSST 2008, 350-351, MALLORCA (2008) 1-gen-2008 Ferrara, M. A.; Sirleto, L.; Donato, M. G.; Messina, Giacomo; Santangelo, S.; Rotiroti, L.; Rendina, I.
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Tipologia
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Autore
  • MESSINA, Giacomo 282
  • FAGGIO, GIULIANA 140
  • TRIOLO, CLAUDIA 55
  • FRONTERA, Patrizia 41
  • MUSOLINO, Maria Grazia 17
  • MALARA, Angela 10
  • ANTONUCCI, Pierluigi 9
  • PANTO', Fabiola 9
  • DONATO, Andrea 6
  • BONACCORSI, Lucio Maria 3
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 42
  • 2010 - 2019 180
  • 2000 - 2009 162
  • 1990 - 1999 57
  • 1984 - 1989 16
Editore
  • IOS Press 6
  • Morlacchi Editore 5
  • Springer-Verlag 4
  • Research Signpost 3
  • Edizioni CNR 2012 2
  • Società Italiana di Fisica 2
  • VDE-VERLAG GMBH 2
  • EdiSES Edizioni S.r.l. 1
  • ELSEVIER 1
  • Elsevier 1
Rivista
  • DIAMOND AND RELATED MATERIALS 26
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 11
  • IL NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ IT... 8
  • JOURNAL OF RAMAN SPECTROSCOPY 7
  • APPLIED SCIENCES 5
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 4
  • JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTE... 4
  • JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C 4
  • MICROSYSTEM TECHNOLOGIES 4
  • ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS 3
Keyword
  • RAMAN SPECTROSCOPY 42
  • CARBON NANOTUBES 19
  • ELECTROSPINNING 16
  • ELECTRON SCATTERING 14
  • CHEMICAL VAPOR DEPOSITION 13
  • MONTE CARLO SIMULATION 12
  • PHOTOLUMINESCENCE 11
  • Carbon nanotubes 10
  • ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY 10
  • RAMAN 10
Lingua
  • eng 360
  • ita 27
Accesso al fulltext
  • no fulltext 350
  • reserved 76
  • open 30
  • restricted 1